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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Peter Pichler Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
| Médias | Livres Paperback Book (Livre avec couverture souple et dos collé) |
| Validé | 1 novembre 2012 |
| ISBN13 | 9783709172049 |
| Éditeurs | Springer Verlag GmbH |
| Pages | 554 |
| Dimensions | 178 × 254 × 30 mm · 1,01 kg |
| Langue et grammaire | Anglais |