Faites connaître cet article à vos amis:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Peter Pichler 2004 edition
Prix
€ 332,99
Commandé depuis un entrepôt distant
Livraison prévue 26 nov. - 10 déc.
Les cadeaux de Noël peuvent être échangés jusqu'au 31 janvier
Recevez une notification pour les nouvelles sorties de Peter Pichler
Ajouter à votre liste de souhaits iMusic
Également disponible en tant que :
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
| Médias | Livres Hardcover Book (Livre avec dos et couverture rigide) |
| Validé | 2 juin 2004 |
| ISBN13 | 9783211206874 |
| Éditeurs | Springer Verlag GmbH |
| Pages | 554 |
| Dimensions | 178 × 254 × 31 mm · 1,18 kg |
| Langue et grammaire | Anglais Allemand |