CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Livres - Cambridge University Press - 9781107408326 - 5 juin 2014
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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

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Également disponible en tant que :

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

194 pages, black & white illustrations

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 5 juin 2014
ISBN13 9781107408326
Éditeurs Cambridge University Press
Pages 194
Dimensions 152 × 229 × 10 mm   ·   412 g   (Poids (estimé))
Langue et grammaire Anglais  
Éditeur Butterbaugh, Jeffery W.
Éditeur Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Éditeur Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Éditeur Rachmady, Willy
Éditeur Taylor, Bill

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