CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Livres - Materials Research Society - 9781605111285 - 19 novembre 2009
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CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

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Également disponible en tant que :

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

179 pages, illustrations

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 19 novembre 2009
ISBN13 9781605111285
Éditeurs Materials Research Society
Pages 194
Dimensions 160 × 236 × 18 mm   ·   432 g
Langue et grammaire Anglais  
Éditeur Butterbaugh, Jeffery W.
Éditeur Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Éditeur Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Éditeur Rachmady, Willy
Éditeur Taylor, Bill

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