Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications -  - Livres - Taylor & Francis Ltd - 9780367655389 - 7 octobre 2024
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications

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This book focuses on explaining and applying the principles of machine learning-based techniques and advanced image processing methods currently used in the electron microscopy community suitable for handling large electron microscopy data sets and extracting structure-property information for various materials.


150 pages, 7 Tables, black and white; 25 Illustrations, color; 81 Illustrations, black and white

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 7 octobre 2024
ISBN13 9780367655389
Éditeurs Taylor & Francis Ltd
Pages 150
Dimensions 150 × 220 × 10 mm   ·   300 g
Langue et grammaire Anglais  
Éditeur Bruma, Alina (University of Maryland College Park)

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