Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications - - Livres - Taylor & Francis Ltd - 9780367197360 - 21 décembre 2020
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications 1er édition

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This book focuses on explaining and applying the principles of machine learning-based techniques and advanced image processing methods currently used in the electron microscopy community suitable for handling large electron microscopy data sets and extracting structure-property information for various materials.

184 pages, 7 Tables, black and white; 25 Illustrations, color; 81 Illustrations, black and white

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 21 décembre 2020
ISBN13 9780367197360
Éditeurs Taylor & Francis Ltd
Pages 150
Dimensions 241 × 159 × 17 mm   ·   406 g
Langue et grammaire Anglais  
Éditeur Bruma, Alina (University of Maryland College Park)

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