Field-Ion Microscopy - Crystals - R. Wagner - Livres - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642686894 - 7 décembre 2011
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Field-Ion Microscopy - Crystals Softcover reprint of the original 1st ed. 1982 edition

R. Wagner

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Field-Ion Microscopy - Crystals Softcover reprint of the original 1st ed. 1982 edition

Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal.

134 pages, biography

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 7 décembre 2011
ISBN13 9783642686894
Éditeurs Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pages 118
Dimensions 170 × 244 × 7 mm   ·   226 g
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