X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences - Shih-Lin Chang - Livres - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540211969 - 24 juin 2004
Si la couverture et le titre ne correspondent pas, le titre est correct.

X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences 2004 edition

Prix
€ 143,99

Commandé depuis un entrepôt distant

Livraison prévue 25 sept. - 5 oct.
Recevez une notification pour les nouvelles sorties de Shih-Lin Chang
Ajouter à votre liste de souhaits iMusic

Pas encore évalué

Également disponible en tant que :

X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.


436 pages, biography

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 24 juin 2004
ISBN13 9783540211969
Éditeurs Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pages 436
Dimensions 156 × 234 × 25 mm   ·   807 g
Langue et grammaire Allemand  

Plus d'ouvrages du même éditeur