Phase Change Memory: Device Physics, Reliability and Applications - - Livres - Springer International Publishing AG - 9783319690520 - 28 novembre 2017
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Phase Change Memory: Device Physics, Reliability and Applications 1st ed. 2018 edition

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This book describes the physics of phase change memory devices, starting from basic operation to reliability issues. The book also contains design engineering details on PCM cell architecture, PCM cell arrays (including electrical circuit management), as well as the full spectrum of possible future applications.

330 pages, 40 Tables, color; 196 Illustrations, color; 24 Illustrations, black and white; XVIII, 330

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 28 novembre 2017
ISBN13 9783319690520
Éditeurs Springer International Publishing AG
Pages 330
Dimensions 150 × 220 × 20 mm   ·   666 g
Langue et grammaire Allemand  
Éditeur Redaelli, Andrea

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