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Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar
Jianjun Gao
Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar
Jianjun Gao
350 pages, illustrations
Médias | Livres Hardcover Book (Livre avec dos et couverture rigide) |
Validé | 30 juin 2010 |
ISBN13 | 9781891121890 |
Éditeurs | SciTech Publishing Inc |
Pages | 350 |
Dimensions | 589 g |