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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs Ruijing Shen 2012 edition
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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Ruijing Shen
This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.
306 pages, 61 black & white tables, biography
| Médias | Livres Paperback Book (Livre avec couverture souple et dos collé) |
| Validé | 13 avril 2014 |
| ISBN13 | 9781489987877 |
| Éditeurs | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pages | 306 |
| Dimensions | 155 × 235 × 18 mm · 511 g |
| Langue et grammaire | Anglais |