Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Livres - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 30 janvier 2012
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Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

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The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 30 janvier 2012
ISBN13 9781461588818
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Pages 491
Dimensions 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Langue et grammaire Anglais  
Éditeur Meyer, Otto

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