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Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Otto Meyer Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2
Otto Meyer
The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.
508 pages, biography
| Médias | Livres Paperback Book (Livre avec couverture souple et dos collé) |
| Validé | 30 janvier 2012 |
| ISBN13 | 9781461588818 |
| Éditeurs | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pages | 491 |
| Dimensions | 178 × 254 × 26 mm · 879 g |
| Langue et grammaire | Anglais |
| Éditeur | Meyer, Otto |
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