Quantitative X-Ray Diffractometry - Lev S. Zevin - Livres - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461395379 - 27 décembre 2011
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Lev S. Zevin
Quantitative X-Ray Diffractometry Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

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One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.

398 pages, biography

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 27 décembre 2011
ISBN13 9781461395379
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Pages 372
Dimensions 170 × 244 × 20 mm   ·   630 g
Langue et grammaire Anglais  
Éditeur Mureinik, Inez

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