Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis - Joseph Goldstein - Livres - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461344247 - 12 octobre 2011
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Joseph Goldstein
Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1975 edition

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In the spring of 1963, a well-known research institute made a market survey to assess how many scanning electron microscopes might be sold in the United States. This range overlaps considerably with the light microscope at the low end, and with the electron microscope at the high end.

582 pages, biography

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 12 octobre 2011
ISBN13 9781461344247
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Pages 582
Dimensions 155 × 235 × 31 mm   ·   834 g
Langue et grammaire Anglais  
Éditeur Goldstein, Joseph

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