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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability Stephan Eggersgluss 2012 edition
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€ 94,99
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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Stephan Eggersgluss
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
193 pages, 52 black & white tables, biography
| Médias | Livres Hardcover Book (Livre avec dos et couverture rigide) |
| Validé | 31 janvier 2012 |
| Date de publication originale | 2011 |
| ISBN13 | 9781441999757 |
| Éditeurs | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pages | 193 |
| Dimensions | 155 × 235 × 12 mm · 476 g |
| Langue et grammaire | Anglais |