Testing Static Random Access Memories - Frontiers in Electronic Testing - Said Hamdioui - Livres - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441954305 - 9 décembre 2010
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Testing Static Random Access Memories - Frontiers in Electronic Testing Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 2004 edition

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221 pages, biography

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 9 décembre 2010
ISBN13 9781441954305
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Pages 221
Dimensions 155 × 235 × 13 mm   ·   344 g
Langue et grammaire Anglais  

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