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Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 - MRS Proceedings
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Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
514 pages, black & white illustrations
| Médias | Livres Paperback Book (Livre avec couverture souple et dos collé) |
| Validé | 5 juin 2014 |
| ISBN13 | 9781107409484 |
| Éditeurs | Cambridge University Press |
| Pages | 514 |
| Dimensions | 152 × 229 × 26 mm · 812 g (Poids (estimé)) |
| Langue et grammaire | Anglais |
| Éditeur | Filter, William F. |
| Éditeur | Frost, Harold J. (Dartmouth College, New Hampshire) |
| Éditeur | Ho, Paul S. (University of Texas, Austin) |
| Éditeur | Rodbell, Kenneth P. (IBM T J Watson Research Center, New York) |
