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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1er édition
Pradeep Lall
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach 1er édition
Pradeep Lall
This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.
336 pages, 30 black & white tables
| Médias | Livres Hardcover Book (Livre avec dos et couverture rigide) |
| Validé | 24 avril 1997 |
| ISBN13 | 9780849394508 |
| Éditeurs | Taylor & Francis Inc |
| Pages | 328 |
| Dimensions | 184 × 264 × 23 mm · 794 g |
| Langue et grammaire | English |
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