Microelectronic Manufacturing Yield Reliability - Hartmann - Livres - SPIE Press - 9780819426482 - 30 juin 2006
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Microelectronic Manufacturing Yield Reliability


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198 pages

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 30 juin 2006
ISBN13 9780819426482
Éditeurs SPIE Press
Pages 198
Dimensions 150 × 220 × 10 mm   ·   441 g   (Poids (estimé))

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