Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

Yervant Zorian

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Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

Médias	Livres Hardcover Book (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé	31 mai 1997
ISBN13	9780792399209
Éditeurs	Kluwer Academic Publishers
Pages	167
Dimensions	203 × 254 × 11 mm · 535 g
Langue et grammaire	English
Éditeur	Zorian, Yervant

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