Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Sorin Cristoloveanu - Livres - Kluwer Academic Publishers - 9780792395485 - 30 juin 1995
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Sorin Cristoloveanu
Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science 1995 edition

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Describes a variety of electrical characterization methods, from wafer screening and defect identification to detailed device evaluation. This book provides a comprehensive treatment of different aspects of SOI technologies, including material synthesis, device physics, characterization, circuit applications, and reliability issues.

396 pages, biography

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 30 juin 1995
ISBN13 9780792395485
Éditeurs Kluwer Academic Publishers
Pages 396
Dimensions 156 × 234 × 22 mm   ·   734 g
Langue et grammaire Anglais  

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