Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Livres - Springer - 9780792390589 - 31 décembre 1989
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Debashis Bhattacharya
Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1990 edition

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To match this high-level circuit model, we introduce a high-level bus fault that, in effect, replaces a large number of SSL faults and allows them to be tested in parallel.

160 pages, biography

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 31 décembre 1989
ISBN13 9780792390589
Éditeurs Springer
Pages 160
Dimensions 155 × 235 × 11 mm   ·   426 g
Langue et grammaire Anglais  

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