Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution - Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island) - Livres - Cambridge University Press - 9780521529778 - 11 décembre 2008
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Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution

Freund, L. B. (Brown University, Rhode Island)

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Thin Film Materials: Stress, Defect Formation and Surface Evolution

Thin film mechanical behavior and stress presents a technological challenge for materials scientists, physicists and engineers. Describing fundamental concepts with practical case studies, highly illustrated, thorough referencing and containing numerous homework problems, this book will be essential for graduate courses on thin films and the classic reference for researchers.


770 pages, 75 b/w illus. 75 exercises

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 11 décembre 2008
ISBN13 9780521529778
Éditeurs Cambridge University Press
Pages 770
Dimensions 175 × 247 × 35 mm   ·   1,38 kg
Langue et grammaire English  

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