Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis - Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology) - Livres - Cambridge University Press - 9780521482660 - 23 mai 1996
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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Wang, Zhong Lin (Georgia Institute of Technology)

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Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis

Entirely self-contained, this book serves as a comprehensive source for graduate students and working scientists using electron microscopy and spectrometry techniques for surface studies. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments giving a complete coverage of RHEED and REM.

456 pages, 224 b/w illus. 10 tables

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 23 mai 1996
ISBN13 9780521482660
Éditeurs Cambridge University Press
Pages 458
Dimensions 170 × 244 × 25 mm   ·   1,10 kg

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