Applied Measurement with jMetrik - Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Livres - Taylor & Francis Ltd - 9780415531955 - 27 juin 2014
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Applied Measurement with jMetrik 1er édition

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)

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Applied Measurement with jMetrik 1er édition

Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.

55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 27 juin 2014
ISBN13 9780415531955
Éditeurs Taylor & Francis Ltd
Pages 170
Dimensions 152 × 229 × 15 mm   ·   362 g
Langue et grammaire English  

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