Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Livres - Chapman and Hall - 9780412145612 - 31 janvier 1999
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1999 edition

Lawrence C Wagner

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This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

255 pages, biography

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 31 janvier 1999
ISBN13 9780412145612
Éditeurs Chapman and Hall
Pages 255
Dimensions 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g
Langue et grammaire English  
Éditeur Wagner, Lawrence C.

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