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Communiqués par Tackhwi Lee

13 mai 2011

Cover for Tackhwi Lee · Device Characterization of Dy-incorporated Hfo2 Gate Oxide Nmos Device: Device Characteristics and Reliability of Dyo / Hfo Gate Dielectrics and the Application to Nand Flash Memory (Paperback Book) (2011)

Device Characterization of Dy-in... (2011)

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