Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Livres - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 12 février 2010
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Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

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These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 12 février 2010
ISBN13 9783642065699
Éditeurs Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pages 420
Dimensions 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Langue et grammaire Allemand  
Éditeur Bhushan, Bharat
Éditeur Fuchs, Harald

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