Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Livres - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21 février 2006
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Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

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These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 21 février 2006
Date de publication originale 2005
ISBN13 9783540262428
Éditeurs Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pages 420
Dimensions 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Langue et grammaire Allemand  
Éditeur Bhushan, Bharat
Éditeur Fuchs, Harald

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