Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - Livres - Springer International Publishing AG - 9783031442353 - 7 février 2025
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

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From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 7 février 2025
ISBN13 9783031442353
Éditeurs Springer International Publishing AG
Pages 366
Dimensions 150 × 220 × 10 mm   ·   664 g
Langue et grammaire Allemand  

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