Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs - Alexandra Zimpeck - Livres - Springer Nature Switzerland AG - 9783030683702 - 11 mars 2022
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Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs 2021 edition

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transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.


131 pages, 50 Tables, color; 86 Illustrations, color; 3 Illustrations, black and white; XIII, 131 p.

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 11 mars 2022
ISBN13 9783030683702
Éditeurs Springer Nature Switzerland AG
Pages 131
Dimensions 155 × 232 × 11 mm   ·   240 g
Langue et grammaire Allemand  

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