Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology -  - Livres - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156145 - 25 août 2020
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Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - NanoScience and Technology 2019 edition

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The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.


408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 25 août 2020
ISBN13 9783030156145
Éditeurs Springer Nature Switzerland AG
Pages 408
Dimensions 150 × 220 × 10 mm   ·   652 g
Langue et grammaire Allemand  
Éditeur Celano, Umberto

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