Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar - Jianjun Gao - Livres - SciTech Publishing Inc - 9781891121890 - 30 juin 2010
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Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors - Electromagnetics and Radar

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350 pages, illustrations

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 30 juin 2010
ISBN13 9781891121890
Éditeurs SciTech Publishing Inc
Pages 350
Dimensions 150 × 220 × 20 mm   ·   589 g

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