Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Livres - Springer London Ltd - 9781848820586 - 1 décembre 2008
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Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

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"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 1 décembre 2008
ISBN13 9781848820586
Éditeurs Springer London Ltd
Pages 298
Dimensions 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
Langue et grammaire Anglais  

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