Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - Livres - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - 12 août 2016
Si la couverture et le titre ne correspondent pas, le titre est correct.

Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Prix
€ 159,99

Commandé depuis un entrepôt distant

Livraison prévue 9 - 23 oct.
Recevez une notification pour les nouvelles sorties de Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

Nos clients disent :

Politique de retour de 14 jours conformément à la loi européenne sur la protection des consommateurs
Meilleur classement sur Trustpilot
Ajouter à votre liste de souhaits iMusic

Pas encore évalué

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 12 août 2016
ISBN13 9781848219366
Éditeurs ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Pages 320
Dimensions 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g

Plus par Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

Afficher tout

Plus d'ouvrages du même éditeur

Voir tous les Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)