Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - Livres - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - 6 avril 2021
Si la couverture et le titre ne correspondent pas, le titre est correct.

Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Prix
€ 154,99

Commandé depuis un entrepôt distant

Livraison prévue 8 - 19 janv. 2026
Les cadeaux de Noël peuvent être échangés jusqu'au 31 janvier

Nos clients disent :

Politique de retour de 14 jours conformément à la loi européenne sur la protection des consommateurs
Meilleur classement sur Trustpilot
Ajouter à votre liste de souhaits iMusic

288 pages

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 6 avril 2021
ISBN13 9781786306876
Éditeurs ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Pages 288
Dimensions 150 × 220 × 20 mm   ·   562 g
Langue et grammaire Anglais  

Plus par Pierre-Richard Dahoo

Afficher tout

Voir tous les Pierre-Richard Dahoo ( par ex. Hardcover Book )