Microelectronic Test Structures for Cmos Technology - Manjul Bhushan - Livres - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489990556 - 1 octobre 2014
Si la couverture et le titre ne correspondent pas, le titre est correct.

Microelectronic Test Structures for Cmos Technology

Prix
€ 122,49

Commandé depuis un entrepôt distant

Livraison prévue 5 - 13 nov.
Les cadeaux de Noël peuvent être échangés jusqu'au 31 janvier
Recevez une notification pour les nouvelles sorties de Manjul Bhushan
Ajouter à votre liste de souhaits iMusic

Pas encore évalué

Également disponible en tant que :

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.


373 pages, 37 black & white tables, biography

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 1 octobre 2014
ISBN13 9781489990556
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Pages 373
Dimensions 155 × 235 × 21 mm   ·   566 g
Langue et grammaire Anglais  

Plus par Manjul Bhushan

Plus d'ouvrages du même éditeur