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Microelectronic Test Structures for Cmos Technology Manjul Bhushan
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Microelectronic Test Structures for Cmos Technology
Manjul Bhushan
Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.
373 pages, 37 black & white tables, biography
| Médias | Livres Paperback Book (Livre avec couverture souple et dos collé) |
| Validé | 1 octobre 2014 |
| ISBN13 | 9781489990556 |
| Éditeurs | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pages | 373 |
| Dimensions | 155 × 235 × 21 mm · 566 g |
| Langue et grammaire | Anglais |