Plasma Charging Damage - Kin P. Cheung - Livres - Springer London Ltd - 9781447110620 - 30 août 2012
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Plasma Charging Damage Softcover reprint of the original 1st ed. 2001 edition

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€ 189,99

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In the 50 years since the invention of transistor, silicon integrated circuit (IC) technology has made astonishing advances. In state of the art silicon Ie manufacturing process, plasma is used in more than 20 different critical steps.


364 pages, biography

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 30 août 2012
ISBN13 9781447110620
Éditeurs Springer London Ltd
Pages 346
Dimensions 157 × 234 × 19 mm   ·   522 g
Langue et grammaire Anglais  

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