Soft Errors in Modern Electronic Systems - Frontiers in Electronic Testing - Michael Nicolaidis - Livres - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441969927 - 30 septembre 2010
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Michael Nicolaidis
Soft Errors in Modern Electronic Systems - Frontiers in Electronic Testing 2011 edition

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Provides a comprehensive presentation of the research results and technological developments enabling understanding, qualifying and mitigating the soft errors effect in advanced electronics, including the fundamental physical mechanisms of radiation induced soft errors, the various steps that lead to a system failure, and more.

336 pages, biography

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 30 septembre 2010
ISBN13 9781441969927
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Pages 318
Dimensions 155 × 235 × 19 mm   ·   644 g
Langue et grammaire Anglais  
Éditeur Nicolaidis, Michael

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