Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Livres - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923066 - 23 novembre 2010
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

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Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.


282 pages, biography

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 23 novembre 2010
ISBN13 9781441923066
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Pages 282
Dimensions 155 × 235 × 16 mm   ·   417 g
Langue et grammaire Anglais  

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