Accelerated Life Testing of One-shot Devices: Data Collection and Analysis - Balakrishnan, Narayanaswamy (McMaster University, Hamilton, Canada) - Livres - John Wiley & Sons Inc - 9781119664000 - 16 avril 2021
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Accelerated Life Testing of One-shot Devices: Data Collection and Analysis

Balakrishnan, Narayanaswamy (McMaster University, Hamilton, Canada)

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Accelerated Life Testing of One-shot Devices: Data Collection and Analysis

200 pages

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 16 avril 2021
ISBN13 9781119664000
Éditeurs John Wiley & Sons Inc
Pages 240
Dimensions 10 × 10 × 10 mm   ·   454 g
Langue et grammaire English  
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