Mems Reliability For Critical and Space Applications - Lawton - Livres - SPIE Press - 9780819434777 - 31 août 1999
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Mems Reliability For Critical and Space Applications

Lawton

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Mems Reliability For Critical and Space Applications

A selection of scientific papers on the reliability of microelectromechanical systems (MEMS) for critical and space applications.


176 pages, illustrations

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 31 août 1999
ISBN13 9780819434777
Éditeurs SPIE Press
Pages 176
Dimensions 393 g   (Poids (estimé))

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