Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Yusuf Leblebici - Livres - Springer - 9780792393528 - 30 juin 1993
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Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1993 edition

Yusuf Leblebici

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The development and use of accurate reliability simulation tools are therefore crucial for early assessment and improvement of circuit reliability : Once the long-term reliability of the circuit is estimated through simulation, the results can be compared with predetermined reliability specifications or limits.

229 pages, biography

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 30 juin 1993
ISBN13 9780792393528
Éditeurs Springer
Pages 212
Dimensions 155 × 235 × 14 mm   ·   508 g
Langue et grammaire English  

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