Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Gianfranco Pacchioni

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Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000

624 pages, 87 black & white illustrations, biography

Médias	Livres Paperback Book (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé	31 décembre 2000
ISBN13	9780792366867
Éditeurs	Springer
Pages	624
Dimensions	153 × 234 × 20 mm · 875 g
Langue et grammaire	English
Éditeur	Griscom, David L.
Éditeur	Pacchioni, Gianfranco
Éditeur	Skuja, Linards

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