Electron Microscopy and Analysis - Peter J. Goodhew - Livres - Taylor & Francis Ltd - 9780748409686 - 30 novembre 2000
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Peter J. Goodhew
Electron Microscopy and Analysis 3e édition

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A guide to scanning and transmission microscopes and to the analytical techniques based on them. It covers the techniques of electron energy loss spectroscopy and energy dispersive X-ray analysis. It compares electron microscopic techniques to many of the competing physical investigative techniques available.

254 pages, 147 colour illustrations

Médias Livres     Paperback Book   (Livre avec couverture souple et dos collé)
Validé 30 novembre 2000
ISBN13 9780748409686
Éditeurs Taylor & Francis Ltd
Pages 264
Dimensions 236 × 157 × 16 mm   ·   420 g
Langue et grammaire Anglais  

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