Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy - Nigel D Browning - Livres - Cambridge University Press - 9780521554909 - 6 juillet 2000
Si la couverture et le titre ne correspondent pas, le titre est correct.

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

Nigel D Browning

Prix
€ 186,49

Commandé depuis un entrepôt distant

Livraison prévue 13 - 22 janv. 2025
Les cadeaux de Noël peuvent être échangés jusqu'au 31 janvier

Nos clients disent :

Politique de retour de 14 jours conformément à la loi européenne sur la protection des consommateurs
Meilleur classement sur Trustpilot
Ajouter à votre liste de souhaits iMusic

Également disponible en tant que :

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications.

406 pages, 267 b/w illus. 3 tables

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 6 juillet 2000
ISBN13 9780521554909
Éditeurs Cambridge University Press
Pages 406
Dimensions 170 × 244 × 24 mm   ·   1,13 kg
Éditeur Browning, Nigel D. (University of Illinois, Chicago)
Éditeur Pennycook, Stephen J. (Oak Ridge National Laboratory, Tennessee)

Voir tous les Nigel D Browning ( par ex. Paperback Book et Hardcover Book )