Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics - - Livres - Elsevier Science Publishing Co Inc - 9780443297861 - 25 novembre 2024
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Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics

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Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 - Advances in Imaging and Electron Physics

232 pages

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
A libérer 25 novembre 2024
ISBN13 9780443297861
Éditeurs Elsevier Science Publishing Co Inc
Pages 232
Dimensions 497 g   (Poids (estimé))
Éditeur de séries Hawkes, Peter W. (Founder-President of the European Microscopy Society and Fellow, Microscopy and Optical Societies of America; member of the editorial boards of several microscopy journals and Serial Editor, Advances in Electron Optics, France)
Éditeur de séries Hytch, Martin (Senior Scientist, French National Centre for Research (CNRS), Toulouse, France)