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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Manoj Sachdev 2nd ed. 2007 edition
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing
Manoj Sachdev
The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.
328 pages, biography
| Médias | Livres Hardcover Book (Livre avec dos et couverture rigide) |
| Validé | 21 juin 2007 |
| ISBN13 | 9780387465463 |
| Éditeurs | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pages | 328 |
| Dimensions | 155 × 235 × 20 mm · 721 g |
| Langue et grammaire | Anglais |