Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Manoj Sachdev - Livres - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387465463 - 21 juin 2007
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 2nd ed. 2007 edition

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The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.


328 pages, biography

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 21 juin 2007
ISBN13 9780387465463
Éditeurs Springer-Verlag New York Inc.
Pages 328
Dimensions 155 × 235 × 20 mm   ·   721 g
Langue et grammaire Anglais  

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