Advanced VLSI Design and Testability Issues - Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata - Livres - Taylor & Francis Ltd - 9780367492823 - 19 août 2020
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Sobhit Saxena-Sushanta Kumar Mohapatra-Suman Lata
Advanced VLSI Design and Testability Issues 1er édition

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This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.

360 pages, 29 Tables, black and white; 192 Illustrations, black and white

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 19 août 2020
ISBN13 9780367492823
Éditeurs Taylor & Francis Ltd
Pages 360
Dimensions 241 × 162 × 27 mm   ·   718 g
Langue et grammaire Anglais  
Éditeur Mohapatra, Sushanta Kumar (Kalinga Institute of Industrial Technology, India.)
Éditeur Saxena, Sobhit (Lovely Professional University University, India.)
Éditeur Tripathi, Suman Lata (Lovely Professional University, India)

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