Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Livres - Springer Science+Business Media - 9780306421402 - 31 mars 1986
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 1986 edition


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This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


454 pages, biography

Médias Livres     Hardcover Book   (Livre avec dos et couverture rigide)
Validé 31 mars 1986
ISBN13 9780306421402
Éditeurs Springer Science+Business Media
Pages 454
Dimensions 156 × 234 × 27 mm   ·   721 g
Langue et grammaire Anglais  

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